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【技術(shù)創(chuàng)新】豪威成功申報(bào)“光電性能檢測(cè)分析設(shè)備和方法”發(fā)明專(zhuān)利！
瀏覽：1275 次 發(fā)布時(shí)間：2024-03-27
我司成功申報(bào)一項(xiàng)發(fā)明專(zhuān)利，并獲得國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的專(zhuān)利證書(shū)。此次發(fā)明專(zhuān)利的成功申報(bào)，不僅標(biāo)志著公司在技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略上的重大突破，也為公司未來(lái)的高質(zhì)量跨越式發(fā)展奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
◇ 專(zhuān)利名稱(chēng)：光電性能檢測(cè)分析設(shè)備和方法
未來(lái)豪威科技集團(tuán)將繼續(xù)秉承創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)的發(fā)展理念，積極實(shí)施創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)發(fā)展、高質(zhì)量發(fā)展等戰(zhàn)略部署。努力研發(fā)出更先進(jìn)的技術(shù)和產(chǎn)品，為全球客戶(hù)提供更先進(jìn)、更高效的解決方案。
